劉向月
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當前位置：上海衡翼精密儀器有限公司>>IC卡彎扭試驗機>>HY-IC>> 芯片卡滾壓測試儀
| 產地 | 國產 | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 適用領域 | 大專院校 |
芯片卡滾壓測試儀產品介紹：«識別卡測試方法»ISO/IEC10373-3-2001，智能卡三輪壓力測試儀根據IC卡CQM項目對卡三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環測試。
HY(SL)三輪測試儀
芯片卡滾壓測試儀根據Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試?？ū环诺綑C器中，測試輪將循環測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N。經過測試，檢查芯片情況，芯片應該是完好無損且功能正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準推薦的測試。
芯片卡滾壓測試儀：
1.型號：HY(SL)
2、測試輪循環次數：前后循環各50次
3、電源 AC220V
4、外形尺寸（mm）: 長255 ×寬235 ×高285
5、重量（KG）：12kg
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