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            儀表網>全部分類 >分析檢測 >光譜儀 更新時間:2026-04-16 返回產品中心
            光譜儀

            光譜儀又稱分光儀,廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫,一個色散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。1簡介光譜儀(Spectroscope)是將成分復雜的光分解為光譜線的科學儀器,由棱鏡或衍射光柵等構成,利用光譜儀可測量物體表面反射的光線。陽光中的七色光是肉眼能分的部分(可見光),但若通過光譜

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            • 塞曼原子吸收分光光度計

              塞曼原子吸收分光光度計,全反射非球面消色差光學系統,采用自研紫外高反射率鍍膜技術,獲得良好的光斑均勻性和光通量,提高儀器信噪比。
            • 遠紅外發射率檢測儀

              遠紅外發射率檢測儀儀器特點:
              將標準黑體板與試樣先后置于熱板上,依次調節熱板表面溫度使之達到規定溫度;用光譜響應范圍覆蓋5微米~14微米波段的遠紅外輻射測量系統分別測定標準黑體板和試樣覆蓋在熱板上達到的穩定后的輻射強度,通過計算試樣與標準黑體板的輻射強度之比,從而求出試樣的遠紅外發射率。
            • 單光束紫外可見分光光度計

              單光束紫外可見分光光度計,寬470mm*進深400mm,11kg重,占地小易搬動,適用于教學、競賽等大規模應用場景;
            • 紡織品發射率紅外性能測試

              紡織品發射率紅外性能測試儀儀器特點:
              將標準黑體板與試樣先后置于熱板上,依次調節熱板表面溫度使之達到規定溫度;用光譜響應范圍覆蓋5微米~14微米波段的遠紅外輻射測量系統分別測定標準黑體板和試樣覆蓋在熱板上達到的穩定后的輻射強度,通過計算試樣與標準黑體板的輻射強度之比,從而求出試樣的遠紅外發射率。
            • 紡織品遠紅外發射率測試儀

              紡織品遠紅外發射率測試儀儀器特點:
              將標準黑體板與試樣先后置于熱板上,依次調節熱板表面溫度使之達到規定溫度;用光譜響應范圍覆蓋5微米~14微米波段的遠紅外輻射測量系統分別測定標準黑體板和試樣覆蓋在熱板上達到的穩定后的輻射強度,通過計算試樣與標準黑體板的輻射強度之比,從而求出試樣的遠紅外發射率。
            • T400/T500紫外可見分光光

              T400/T500紫外可見分光光度計,寬470mm*進深400mm,11kg重,占地小易搬動,適用于教學、競賽等大規模應用場景;
            • A500原子吸收分光光度計

              A500原子吸收分光光度計,全反射非球面消色差光學系統,采用自研紫外高反射率鍍膜技術,獲得良好的光斑均勻性和光通量,提高儀器信噪比。
            • 布魯克納米紅外光譜與成像

              布魯克納米紅外光譜與成像系統nanolR3
              原子力顯微鏡(AFM)的納米紅外光譜(AFM-IR)是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學分析能力相結合的新技術。該技術通過使用原子力顯微鏡的針尖來局部檢測樣品因紅外輻射的局部吸收而產生的熱膨脹信號,突破了傳統紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制,可實現優于10nm空間分辨,單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。
            • 布魯克納米紅外光譜與成像

              布魯克納米紅外光譜與成像系統nanolR3-S
              原子力顯微鏡(AFM)的納米紅外光譜(AFM-IR)是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學分析能力相結合的新技術。該技術通過使用原子力顯微鏡的針尖來局部檢測樣品因紅外輻射的局部吸收而產生的熱膨脹信號,突破了傳統紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制,可實現優于10nm空間分辨,單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。
            • 油菜籽檢測儀

              油菜籽檢測儀采用近紅外光譜技術,可同時無損檢測油菜籽中的蛋白質、脂肪、水分和芥酸等指標。分析過程無需復雜前處理,數十秒內即可得出結果,極大提升了檢測效率,降低了時間和人力成本。
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