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            原子力顯微鏡
            
        
            
			
            原子力顯微鏡
            
             原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡簡介生物型原子力顯微鏡它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器詳情>>          
        
            
    
            
	    
            
        
            
            
            原子力顯微鏡價格
            
        
            
        
        
            
    
            
    
            
        
            
            
            原子力顯微鏡型號
            
        
            
        
        
            
    
            
    
            
        
            
            
            原子力顯微鏡技術文章