在半導體制造及超純氣體相關行業中,氣體中殘余濕氣的精準控制是確保工藝穩定性與產品質量的關鍵環節。英國Michell(密析爾儀表)推出的Pura高純氣露點變送器,憑借其在阻抗露點傳感器領域的深厚積累,結合工業化材料與制造流程,為這一需求提供了兼具經濟性與可靠性的解決方案。以下從測量性能、精度表現及應用范圍三個維度展開技術分析。
Michell Pura露點變送器的核心優勢在于其極低的測量下限,可覆蓋-120°C露點(相當于濕氣濃度低于1 ppbV),這一性能直接解決了超純氣體中微量水分檢測的技術難題。在半導體制造中,工藝氣體(如高純度氮氣、氫氣、氬氣等)的濕氣殘留可能引發晶圓表面污染、反應異常或設備腐蝕等問題,而Pura通過陶瓷濕度傳感器技術,實現了對痕量水分的連續在線監測,無需依賴復雜或昂貴的分析設備。
此外,Pura的高度集成采樣裝置和緊湊小巧的設計(Premium/OEM型尺寸為120×35×150mm,重量僅450g;Sensor型尺寸為132×35mm,重量180g)顯著降低了安裝與維護的復雜度。其采用VCR過程接口(?"或?"接口),確保了與工業管道系統的兼容性,同時避免了密封泄漏風險。這種設計不僅簡化了現場部署,還適應了對空間和清潔度要求高的半導體生產環境。
Pura變送器的精度特性與其測量范圍密切相關,具體表現為:
-40°C至-60°C露點區間:精度±1°C;
-61°C至-100°C露點區間:精度±2°C;
-101°C至-120°C露點區間:精度±4°C(估算值)。
這一分段精度設計反映了傳感器在超低露點條件下的技術挑戰。例如,在-100°C以下的極低濕氣濃度區間(如接近1 ppbV),由于水分信號微弱,傳感器的響應穩定性可能受到干擾,因此精度以估算值形式呈現。然而,Michell通過長期校驗經驗優化傳感器算法,結合可追溯的13點校準證書(雖未明確提及Pura,但Michell其他型號如Easidew PRO XP具備此特性),確保了其在主流應用區間(-40°C至-100°C)的高可靠性。
在輸出穩定性方面,Pura提供4-20 mA模擬輸出,支持通過專用軟件調整量程范圍(標配為1°C至80°C露點)。同時,其輸出故障狀態定義清晰:23 mA表示傳感器故障,20 mA為超上限,4 mA為超下限,便于用戶快速診斷問題并維護系統。
Pura變送器的定位明確,主要服務于半導體制造行業和超純氣體應用領域 。在半導體生產中,超純氣體(如高純氮氣、氫氣、氦氣)常用于蝕刻、化學氣相沉積(CVD)、原子層沉積(ALD)等關鍵工藝環節。這些工藝對氣體純度要求高,即使ppb級的水分也可能導致薄膜缺陷或器件性能下降。Pura通過其-120°C露點的測量能力,可實時監控氣體純度,確保工藝環境符合嚴苛標準。
在更廣泛的超純氣體應用中,Pura同樣適用于需要長期穩定監測濕氣的場景,例如:
工業氣體生產(如電子級氣體、醫療氣體);
高真空系統(如粒子加速器、實驗室設備);
潔凈室環境監控(如制藥、光學制造)。
其經濟性(低價位)與工業化設計(標準材料、簡單安裝)使其成為替代傳統復雜濕度分析儀的理想選擇,尤其適合需要大規模部署或預算有限的用戶。
Michell Pura的核心技術亮點在于:
1.陶瓷濕度傳感器:基于密析爾儀表多年研發經驗,該傳感器在超純氣體環境中表現出優異的耐腐蝕性和長期穩定性;
2.寬壓力適應性:工作壓力范圍覆蓋低至10?? torr(極限真空)到24 MPa(高壓氣體),滿足多樣化的工業需求;
3.靈活配置:支持Premium/OEM型與Sensor型兩種安裝模式,前者自帶底座與密封設計,后者適配用戶自備接口,兼顧不同場景的靈活性。
從行業意義看,Pura通過降低高純氣體水分檢測的技術門檻,推動了半導體制造等領域的工藝優化與成本控制。其“低價位、高性能”的特點,為超純氣體應用中的在線監測提供了可擴展的解決方案。
Michell Pura高純氣露點變送器憑借-120°C露點的測量下限、分區間量化的精度表現及針對半導體與超純氣體場景的定制化設計,成為工業領域中微量水分監測的重要工具。其技術成熟度與經濟性結合,不僅解決了傳統測量方案的復雜性問題,還為高純氣體質量控制提供了可靠保障。對于需要長期穩定監測痕量水分的用戶而言,Pura是一個值得優先考慮的技術選擇。
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